JEOL JSM-6480LV Rasterelektronenmikroskop (SEM)

Beschreibung

Rasterelektronenmikroskop (REM/SEM) für Forschung, Materialanalyse und Industrie. Für Einrichtungen, die kompatible Systemkomponenten haben oder das Gerät wieder aufbauen möchten.

Technische Daten

• Hersteller: JEOL
• Modell: JSM-6480LV
• Baujahr: 2005
• Netzspannung: 100–110 V, 50/60 Hz
• Leistungsaufnahme: max. 3,0 kVA
• Stromaufnahme: max. 30 A, Anlaufstrom max. 70 A
• Kühlwasser: ca. 2 l/min
• Kennzeichnung: CE
• Herstellungsland: Japan

Lieferumfang

• JEOL JSM-6480LV
• Original-Bedienpanel
• Anschluss- und Verbindungskabel wie abgebildet

Nicht enthalten: Computer, Software und Lizenz, Dongle, Bedienungsanleitung.

Zustand und Prüfung

• Zustandsklasse: C · Ungeprüft
• Optik: Gebraucht, übliche Gebrauchsspuren (siehe Fotos).
• Nicht geprüft: Nach dem Ausbau nicht wieder in Betrieb genommen, da Computer, Software und weitere Peripherie fehlen. Technischer Gesamtzustand unbekannt.

Herkunft

Aus einem Laborbetrieb; laut Vorbesitzer bis zum Ausbau im Einsatz.

Hinweise

• Wegen Größe und Empfindlichkeit nur Abholung oder Speditionsversand nach Absprache.
• Inbetriebnahme nur durch Fachpersonal. Wartung und Prüfung sind nicht Bestandteil des Angebots.